学术报告:结构光场三维测量技术

发布者:吴琼   发布时间:2018-03-12  浏览次数:17    

报告题目:结构光场三维测量技术

报告时间:2018年3月14日(周三)19:00

报告地点:学院一楼(20幢)报告厅

人:吴庆阳深圳技术大学

摘要:在传统的结构光三维成像领域,通常采用的是投影结构光条纹图像到被测物体表面,在与投影光成一定角度的方向上拍摄变形条纹,然后通过对变形条纹进行处理即可恢复被测物体的三维形貌。在这个系统中由于投影光轴与成像光轴存在一定的夹角,所以受到阴影和遮挡的影响,导致得到物体表面的三维点云数据不完整,而当被测量物体表面为光滑表面时,受到反射光影响较大,会出现局部过曝的情况,导致这部分数据无效。为此,我们提出了一种将条纹投影技术与光场成像技术相结合的方法。在该方法中,我们通过投影一系列的编码条纹图像对被测物体表面进行相位编码,并记录下带有编码信息的光场图像,然后以光场成像理论作为主要依据,建立起四维相位光场图像,最后通过查找和计算四维相位光场图像中所有等相位值线,得到了完整的复杂物体表面三维点云数据。

报告人简介:吴庆阳,博士,深圳技术大学教授,硕士生导师,深圳技术大学-菲森科技联合实验室(三维感知技术实验室)负责人,中国光学学会第六届光学测试专业委员会委员, 中国光学学会第八届光电专业委会委员/光机电分会理事,中国仪器仪表学会图像科学与工程分会理事,广东省第一届视频监控标准委员会委员,“Optics Express”, “中国激光”等国内外著名学术期刊的审稿人。主要从事机器视觉、光学三维传感和高速成像的理论和应用研究,先后获得精密仪器专业学士学位、机械设计与理论硕士学位和光学博士学位,近十余年来,一直专注于三维面形测量技术的研究。在“中国激光”,“Optics Express”等国内外核心期刊上发表论文50余篇,获得十多项国内外发明专利的授权,其中包含3项美国专利。

欢迎感兴趣的老师、同学积极参加!

 

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